Micrómetro óptico para determinar la distancia del borde transversal a la dirección de transporte
Los sistemas de medición de anchura, altura y diámetro µMETER-X de ELOVIS funcionan sobre la base de la detección de bordes sin contacto a través de la dirección de movimiento del objeto de medición. Los objetos de medición son, por ejemplo, artículos de cuerda, artículos de red y de tiras, platos y artículos en piezas. La medición de alta precisión en el interruptor de proximidad fotoeléctrico transversal se utiliza para la vigilancia de la producción, así como para la optimización del proceso y la documentación de las condiciones de entrega de los bienes producidos. Los sistemas µMETER-X utilizan la tecnología de sensores de luz incidente o de luz transmitida. Los sistemas de µMETER-X no necesitan mantenimiento, están permanentemente calibrados y miden de forma muy independiente del material. Como una especie de «micrómetro óptico», los sistemas µMETER-X se utilizan para medir la sección transversal, el ancho, la altura y el diámetro de tiras, perfiles, tubos, placas, vigas, pernos y rollos de diferentes materiales.
Tipos de productos – Escáner de luz de sección transversal – Sistemas de medición de anchura, altura y diámetro
µMETER-X-TLSSistema para la medición de alta precisión de la anchura, la altura, el diámetro, la separación, la posición, la distancia de los bordes y los segmentos.
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µMETER-X-VIS/3DSistemas de medición de anchura, altura y diámetro con evaluación de señales en 3D:
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µMETER-X-VIS/2DSistemas de medición de la anchura, la altura y el diámetro con evaluación de la señal en 2D:
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Escáner óptico de sección transversal – Sistemas de medición de anchura, altura y diámetro
Micrómetro óptico / Escáner óptico de sección transversal – en proceso de producción
| µMETER-X: | VIS/3D-Wx | VIS/2D-Wx |
| System Components | 3D Vision-System | 2D Vision-System |
| Product Types | different measurement field sizes | different measurement field sizes |
| Measurement Field (Width) | 3 mm to 1.250 mm | 0,3 mm to 875 mm |
| Measurement Field (Depth) | 80 mm to 2.000 mm | – |
| Measurement Resolution | typically: width: ± 0,05 mm to ± 0,9 mm depth: ± 0,01 mm to ± 0,5 mm |
typically: only width: ± 0,03 mm bis ± 1 mm |
| Repeatability | depending on system ± 0,01 % to ± 0,5 % (confidence interval 1σ) | |
| Arrangement of the Sensor System | horizontal, vertical or diagonal | horizontal, vertical or diagonal |
| Measurement Frequency | up to 1000 Hz | up to 500 Hz |
| Measurement Distance between Gauge and Measurement Object | 150 mm to 2.500 mm | 150 mm to 500 mm |
| Interfaces | Ethernet-IP | 1 x RS-485 |
| I/Os | Input: Start, Calibration Output: Status |
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| I/O Type | RS‐422 Gauge | |
| Available Data | Measurement values, signal quality, status, valid measurement | |
| Fieldbus | Optional:
Profibus-DP, ProfiNet‐RT, Ethernet‐IP, … |
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| Protection Class | IP50 | IP67 |
| Dimensions (LxWxH) |
depending on maximum measurement field size | |
| Power Supply | 12 – 24 VDC | |
| Weight | depending on maximum measurement field size | |
| Light Wavelength and Category | Class 2, <100mW average, wave length 450nm | 1 mW up to 20 mW Infrared |
| Ambient Temperature | 0 to 50°C ‐ not condensing, beyond of temperature range external cooling/heating required | |
| Humidity | Environment should be dry, no condensation | |
Escáner óptico de sección transversal – Sistemas de medición de anchura y altura
Micrómetro óptico / Escáner óptico de sección transversal – En producción
Standard Interface |
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Interface Box for PC Operation µMETER-X-BOX |
Interface box for connecting the sensor to a PC or laptop. Allows for easy connection and supply of the sensor. With RS485 output interface and plug-in power supply. | 
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Sensor Cable |
| Shielded Cables
µMETER-X-K3, K10 |
Sensor cable for connection to an interface such as µMETER-X-Box or bus module, a controller or a display. |  |
Displays and Control Units |
| Display of Measurement Values
µMETER-X-DISPLAY-BOX |
Interface box with measurement value display for connecting the sensor system to a PC or laptop. Box with RS485 output interface and plug-in power supply. | 
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| Control/Control Unit
µMETER-X-CONTROLLER |
Display and Control Unit for the sensors provide the following features:
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| Sorting Control
µMETER-X-SPS |
The SPS sorting control for the µMETER-X sensors provide the following features:
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Mobile Equipment |
| Measurement Tripod
µMETER-X-TRI |
The µMETER-X sensors are lightweight and therefore very well suited for mobile measurement in conjunction with the ELOVIS tripods (TRI). The TRI tripod consists of: tripod, boom with joint, sensor attachment to the boom with ball head and sensor mounting plate. |  |
Software |
| PC Software
µMETER-X-CMS |
The CMS configuration and monitoring software is used for µMETER-X operation, adjustment of setpoint and tolerance values as well as the display and storage of measurement values on a PC, laptop or tablet computer. The CMS software is mainly used for manual measurements. |  |
Fieldbus and Communication Modules |
| Profibus-DP, ProfiNet-RT, Ethernet-IP
µMETER-XPB, -PN, -EN |
Standard bus interface modules with the following output: Measurement Value (in m) , Speed (in m/s), Status Signal (valid/invalid) | 
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Escáner de luz de sección transversal para medir la anchura, la altura y el diámetro
El material a medir pasa por la zona de medición a través de la dirección de transporte del sistema µMETER-X en sentido longitudinal. En cuanto el material se encuentra a la misma altura que el sensor, se determina automáticamente y de forma continua la dimensión de la sección transversal correspondiente. Para que la medición pueda realizarse con gran precisión, el material de medición debe estar lo más limpio y seco posible. Además, el objeto de medición debe pasar por el sistema µMETER-X lo más recto posible. El principio de medición puede describirse como micrómetro óptico / escáner de luz de sección transversal de medición para mediciones en el ciclo de producción. El sistema µVIS-3D se basa en un concepto de sección de luz láser en luz incidente. Pero el sistema µVIS-3D también puede procesar información de luz transmitida. El sistema µVIS-2D se basa en el sombreado de un reflector por el material de medición.
Vídeos sobre sensores de proximidad fotoeléctricos transversales – anchos, alturas, diámetros, sistemas de medición
Micrómetro óptico / Sensor de medición de luz transversal – en producción
Video del producto
Video de aplicación
Descargas para Interruptores de proximidad fotoeléctricos transversales – Anchuras Alturas Diámetros Sistemas de medición
Micrómetro óptico / Sensor de medición de luz transversal – en producción
Folleto de producto µMETER-X-V3D -> por favor contacte con ELOVIS
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