Los interruptores de proximidad fotoeléctricos transversales
sistemas de medición de diámetro de ancho y alto

Micrómetro óptico para determinar la distancia del borde transversal a la dirección de transporte

Los sistemas de medición de anchura, altura y diámetro µMETER-X de ELOVIS funcionan sobre la base de la detección de bordes sin contacto a través de la dirección de movimiento del objeto de medición. Los objetos de medición son, por ejemplo, artículos de cuerda, artículos de red y de tiras, platos y artículos en piezas. La medición de alta precisión en el interruptor de proximidad fotoeléctrico transversal se utiliza para la vigilancia de la producción, así como para la optimización del proceso y la documentación de las condiciones de entrega de los bienes producidos. Los sistemas µMETER-X utilizan la tecnología de sensores de luz incidente o de luz transmitida. Los sistemas de µMETER-X no necesitan mantenimiento, están permanentemente calibrados y miden de forma muy independiente del material. Como una especie de «micrómetro óptico», los sistemas µMETER-X se utilizan para medir la sección transversal, el ancho, la altura y el diámetro de tiras, perfiles, tubos, placas, vigas, pernos y rollos de diferentes materiales.

Tipos de productos – Escáner de luz de sección transversal – Sistemas de medición de anchura, altura y diámetro

µMETER-X-TLS

Sistema para la medición de alta precisión de la anchura, la altura, el diámetro, la separación, la posición, la distancia de los bordes y los segmentos.

  • Sensor basado en la luz transmitida, compuesto por un transmisor y un receptor de luz
  • Tipos de sensores para anchos de escaneo de 45 mm a 95 mm
  • Resolución a partir de 1 µm
  • Linealidad +/- 10 µm
  • Reproducibilidad hasta < 5µm
  • Distancia emisor/receptor de 100 mm a 1900 mm
  • Paquetes de software disponibles para diversos parámetros de medición anchura, altura/espesor, forma del borde, anchura múltiple, … distancia de los bordes/superficies del objeto
  • Los sensores se pueden conectar en cascada (varios sensores se pueden unir para cubrir rangos de medición más amplios)
TLS Durchlicht Sensor

µMETER-X-VIS/3D

Sistemas de medición de anchura, altura y diámetro con evaluación de señales en 3D:

  • Sensor basado en cámara para luz incidente y transmitida compuesto por cámara e iluminación
  • Tipos de sensores para medir anchuras desde 60 mm hasta 1250 mm
  • Tipos de sensores para medir profundidades desde 80 mm hasta 2000 mm
  • precisión de medición típica de +/- 0,1 mm
  • Paquetes de software para diversos parámetros de medición disponibles: anchura, altura/espesor, forma de los bordes, anchura múltiple, … distancia de los bordes/superficies del objeto
  • Los sensores se pueden conectar en cascada (varios sensores se pueden unir para cubrir mayores precisiones o rangos de medición)

µMETER-X-VIS/2D

Sistemas de medición de la anchura, la altura y el diámetro con evaluación de la señal en 2D:

  • Sensor basado en cámara para luz incidente y transmitida, compuesto por cámara e iluminación
  • Tipos de sensores para medir anchos desde 0,3 mm hasta 875 mm
  • Precisión de medición típica de +/- 0,5 mm
  • Paquetes de software para diversos parámetros de medición disponibles: anchura, altura/espesor, anchura múltiple, … distancia de los bordes del objeto
  • El sensor se puede conectar en cascada (se pueden conectar varios sensores para cubrir una mayor precisión o rangos de medición más amplios)
 

Escáner óptico de sección transversal – Sistemas de medición de anchura, altura y diámetro
Micrómetro óptico / Escáner óptico de sección transversal – en proceso de producción

µMETER-X: VIS/3D-Wx VIS/2D-Wx
System Components 3D Vision-System 2D Vision-System
Product Types different measurement field sizes different measurement field sizes
Measurement Field (Width) 3 mm to 1.250 mm 0,3 mm to 875 mm
Measurement Field (Depth) 80 mm to 2.000 mm
Measurement Resolution typically:
width: ± 0,05 mm to ± 0,9 mm
depth: ± 0,01 mm to ± 0,5 mm
typically:
only width: ± 0,03 mm bis ± 1 mm
Repeatability depending on system ± 0,01 % to ± 0,5 % (confidence interval 1σ)
Arrangement of the Sensor System horizontal, vertical or diagonal horizontal, vertical or diagonal
Measurement Frequency up to 1000 Hz up to 500 Hz
Measurement Distance between Gauge and Measurement Object 150 mm to 2.500 mm 150 mm to 500 mm
Interfaces Ethernet-IP 1 x RS-485
I/Os Input: Start, Calibration
Output: Status
I/O Type RS‐422 Gauge
Available Data Measurement values, signal quality, status, valid measurement
Fieldbus Optional:

Profibus-DP, ProfiNet‐RT, Ethernet‐IP, …

Protection Class IP50 IP67
Dimensions
(LxWxH)
depending on maximum measurement field size
Power Supply 12 – 24 VDC
Weight depending on maximum measurement field size
Light Wavelength and Category Class 2, <100mW average, wave length 450nm 1 mW  up to 20 mW Infrared
Ambient Temperature 0 to 50°C ‐ not condensing, beyond of temperature range external cooling/heating required
Humidity Environment should be dry, no condensation

Escáner óptico de sección transversal – Sistemas de medición de anchura y altura
Micrómetro óptico / Escáner óptico de sección transversal – En producción

Standard Interface

Interface Box for PC Operation

µMETER-X-BOX

Interface box for connecting the sensor to a PC or laptop. Allows for easy connection and supply of the sensor. With RS485 output interface and plug-in power supply.

Sensor Cable

Shielded Cables

µMETER-X-K3, K10

Sensor cable for connection to an interface such as µMETER-X-Box or bus module, a controller or a display.

Displays and Control Units

Display of Measurement Values

µMETER-X-DISPLAY-BOX

Interface box with measurement value display for connecting the sensor system to a PC or laptop. Box with RS485 output interface and plug-in power supply.
Control/Control Unit

µMETER-X-CONTROLLER

Display and Control Unit for the sensors provide the following features:

  • Display of all measurement values
  • Display of sensor status
  • Input of preselection lengths
  • Reset of current length
  • Actuator Contact
  • Sensor parameterization
Sorting Control

µMETER-X-SPS

The SPS sorting control for the µMETER-X sensors provide the following features:

  • Operation via Touch-Screen
  • Display of all measurement values
  • Input of nominal lengths
  • Input of low and high tolerance values
  • Output of sorting signals
  • Product data management
  • Measurement data storage

Mobile Equipment

Measurement Tripod

µMETER-X-TRI

The µMETER-X sensors are lightweight and therefore very well suited for mobile measurement in conjunction with the ELOVIS tripods (TRI). The TRI tripod consists of: tripod, boom with joint, sensor attachment to the boom with ball head and sensor mounting plate.

Software

PC Software

µMETER-X-CMS

The CMS configuration and monitoring software is used for µMETER-X operation, adjustment of setpoint and tolerance values as well as the display and storage of measurement values on a PC, laptop or tablet computer. The CMS software is mainly used for manual measurements.

Fieldbus and Communication Modules

Profibus-DP, ProfiNet-RT, Ethernet-IP

µMETER-XPB, -PN, -EN

Standard bus interface modules with the following output: Measurement Value (in m) , Speed (in m/s), Status Signal (valid/invalid)

Escáner de luz de sección transversal para medir la anchura, la altura y el diámetro

El material a medir pasa por la zona de medición a través de la dirección de transporte del sistema µMETER-X en sentido longitudinal. En cuanto el material se encuentra a la misma altura que el sensor, se determina automáticamente y de forma continua la dimensión de la sección transversal correspondiente. Para que la medición pueda realizarse con gran precisión, el material de medición debe estar lo más limpio y seco posible. Además, el objeto de medición debe pasar por el sistema µMETER-X lo más recto posible. El principio de medición puede describirse como micrómetro óptico / escáner de luz de sección transversal de medición para mediciones en el ciclo de producción. El sistema µVIS-3D se basa en un concepto de sección de luz láser en luz incidente. Pero el sistema µVIS-3D también puede procesar información de luz transmitida. El sistema µVIS-2D se basa en el sombreado de un reflector por el material de medición.

Vídeos sobre sensores de proximidad fotoeléctricos transversales – anchos, alturas, diámetros, sistemas de medición
Micrómetro óptico / Sensor de medición de luz transversal – en producción

Video del producto

Video de aplicación

Descargas para Interruptores de proximidad fotoeléctricos transversales – Anchuras Alturas Diámetros Sistemas de medición
Micrómetro óptico / Sensor de medición de luz transversal – en producción

Folleto de producto µMETER-X-V3D -> por favor contacte con ELOVIS

APLICACIONES

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Siempre disponible:
Bernd Engelsdorf

ELOVIS GmbH

Vincenz-Prießnitz-Straße 1
76131 Karlsruhe, Alemania

T +49 721 933823-0
F +49 721 933823-23

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