Escáner de luz cruzada 2D en la base de la cámara para la medición del ancho
Los sensores VIS/2D de ELOVIS trabajan sobre la base de la detección de bordes sin contacto perpendicular a la dirección del movimiento del objeto de medición en luz incidente o luz transmitida. La medición precisa en el escáner de luz transversal se utiliza para la supervisión de la producción, así como para la optimización del proceso y la documentación de las condiciones de entrega de las mercancías producidas. Los sistemas VIS/2D no necesitan mantenimiento, están calibrados permanentemente y miden en gran medida independientemente del material. Como una especie de «micrómetro óptico» los sistemas VIS/2D se utilizan para la medición de la sección transversal, el ancho, la altura, la determinación del diámetro de tiras, perfiles, tubos, placas, vigas, pernos, rollos de diferentes materiales.
Variantes del producto – Escáner de luz transversal 2D en la base de la cámara para la medición del ancho
Technical Data – 2D Camera-Based Cross-Section Light Scanner for width measurement
µMETER-X: |
VIS/2D-Wx |
System Components | 2D Vision-System |
Product Types | different measurement field sizes |
Measuring field size (width) | 30 mm to 875 mm |
Measuring field resolution (width) | ± 0,03 mm to ± 1 mm |
Systematical Measurement Accuracy | typically: ± 0,1 mm bis ± 0,5 mm |
Repeatability | typical: ± 0,1 % (confidence interval 1σ) |
Arrangement of the Sensor System | horizontal, vertical or diagonal |
Measurement Frequency | up to 500 Hz |
Measurement Distance between Gauge and Measurement Object | 150 mm to 500 mm |
Interfaces | 1 x RS-485 |
I/Os | Input: Start, Calibration Output: Status |
I/O Type | RS‐422 Gauge |
Available Data | Measurement values, signal quality, status, valid measurement |
Fieldbus | Optional: Profibus-DP, ProfiNet‐RT, Ethernet‐IP, … |
Protection Class | Sensor lines: IP50 |
Dimensions (LxWxH) |
depending on maximum measurement field size |
Power Supply | 12 – 24 VDC |
Weight | depending on maximum measurement field size |
LED Data | 1 mW to 20 mW infrared |
Ambient Temperature | 5 to 55°C ‐ not condensing, beyond of temperature range external cooling/heating required |
Humidity | Environment should be dry, no condensation |
Accessories – 2D Camera-Based Cross-Section Light Scanner for width measurement
Standard Interface |
Interface Box for PC Operation µMETER-X-BOX |
Interface box for connecting the sensor to a PC or laptop. Allows for easy connection and supply of the sensor. With RS485 output interface and plug-in power supply. |
Sensor Cable |
Shielded Cables
µMETER-X-K3, K10 |
Sensor cable for connection to an interface such as µMETER-X-Box or bus module, a controller or a display. |
Displays and Control Units |
Display of Measurement Values
µMETER-X-DISPLAY-BOX |
Interface box with measurement value display for connecting the sensor system to a PC or laptop. Box with RS485 output interface and plug-in power supply. | |
Control/Control Unit
µMETER-X-CONTROLLER |
Display and Control Unit for the sensors provide the following features:
|
|
Sorting Control
µMETER-X-SPS |
The SPS sorting control for the µMETER-X sensors provide the following features:
|
Mobile Equipment |
Software |
Fieldbus and Communication Modules |
Profibus-DP, ProfiNet-RT, Ethernet-IP
µMETER-XPB, -PN, -EN |
Standard bus interface modules with the following output: Measurement Value (in m) , Speed (in m/s), Status Signal (valid/invalid) |
2D Camera-Based Cross-Section Light Scanner for Width Measurement
The material to be measured passes through the measurement area across the conveying direction of the µMETER-X System in longitudinal direction. As soon as the material is located on the same height as the sensor, the corresponding cross-sectional dimension is automatically and continuously determined. To ensure that the measurement can take place with high accuracy, the measurement material has to be as clean and dry as possible. In addition, the measurement object should pass the µMETER-X system as straight as possible. The measurement principle can be described as optical micrometer / measuring cross-section light scanner for measurements in the production cycle. The µVIS-2D system is based on shading of a reflector by the measuring material.
Vídeos – Escáner de luz cruzada 2D en la base de la cámara para la medición del ancho
Video del producto
Video de aplicación
Descargas – Escáner de luz cruzada 2D en base a la cámara para la medición del ancho
Folleto de producto µMETER-X-V2D -> por favor contacte con ELOVIS
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